パナソニック インダストリー

PhotoMOSリレー HFタイプ(高容量)1a SSOP 4pin半導体テスターの小型化高耐圧化にお役立ちします

『2023年春発売予定』
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600 V 負荷制御が可能な、小型パッケージの半導体リレー  人気資料 

半導体テスター用途にPhotoMOSリレーをお探しのお客様へ
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PhotoMOSリレー HFタイプ(高容量)1a SSOP 4pinリーフレットイメージ

本商品の3つの特長

oyakudachi1_1 小型SSOPパッケージにより、半導体テスターの検査数増加に貢献します。

従来のSOP4pinに比べ、実装面積が半分以下(44%)になっています。
例えば、半導体テスターの検査部にSOP4pinパッケージを使っている場合、装置のサイズを変更することなく2倍の検査数が可能になります。

SOP4pin、100個の場合。

半導体テスターの検査部にSOP4pinパッケージを使っている場合100個実装

 

SSOPでは実装面積が半分以下のため、200個の搭載が可能!!

半導体テスターの検査部にSSOP4pinパッケージを使うと場合200個実装できる

また、機器を小型化したい場合にも、お使いいただけます。

oyakudachi2_1 高負荷電圧制御により、高電圧検査に貢献します。

本製品は、600V負荷制御が可能なPhotoMOSリレーとなっております。
高耐圧検査が必要な半導体テスターにご採用頂くことで、要望機能を実現いたします。

SOP 4Pin 60V

 

SSOP 4Pin 600V

 

採用想定アプリケーション

計測機器

計測機器

  • 小型
  • 高速動作
  • 高電圧

産業設備

産業設備

  • 小型
  • 低オン抵抗
  • I/O高耐圧

仕様

品番 AQY206GV1Y
サイズ ( mm ) 2.65 X 4.85 X 1.80
負荷電圧

600 V
( 推奨負荷電圧Max: 480 V )

負荷電流 0.15 A
入出力間 ( I/O ) 耐電圧 1,500 V
オン抵抗 平均 8 Ω
最大 15 Ω
動作時間 平均 0.06 ms
最大 0.2 ms
使用周囲温度

-40 ~ +105 ℃

※商品改良のため、仕様・外観は予告なしで変更することがありますので、ご了承下さい。

 

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